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\"Y\"型微通道分子扩散特性的数值仿真研究
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\"Y\"型微通道分子扩散特性的数值仿真研究
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文集编号: 2014090108323
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文档介绍
通过理论分析,定义了"Y"型微流控芯片中液体扩散过程"扩散角",并推导得到了logtanθ~*与logPe之间的线性相关关系。以Fluent6.3为计算平台,建立了芯片数值模型,并对其进行了流动-扩散过程耦合仿真计算。计算结果表明:扩散过程仿真计算对网格精度的要求比纯流动过程要高,因此耦合仿真计算时必须充分考虑扩散过程计算精度的要求;logtanθ~*随logPe呈线性下降关系,且下降趋势与流体种类无关,但其线性比例系数与理论值的误差与数据计算时采用的扩散浓度界线和Pe准数的数值有关。
文档标签:
流体力学
贡献者
高华华
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