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物理与物理工程
如何利用热仿真对倒装芯片和线焊的热性能比较以减少集成电路封装成本
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如何利用热仿真对倒装芯片和线焊的热性能比较以减少集成电路封装成本
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文集编号: 2014080603529
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文档介绍
在双端口10G/bit以太网物理层集成电路研发的早期,AMCC(Applied Micro Circuits)工程师就面临一关键性选择。由于高性能芯片存在严重的热管理问题,工程师不得不从倒装芯片与线焊封装两者择一,前者具有最佳热性能,后者则更便宜。
文档标签:
热力学
贡献者
宋朝晖
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